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Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST)

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Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST)

Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST)

Description

La chambre d’essai à contraintes accélérées élevées (HAST) est con?ue pour l’industrie des puces semi-conductrices, ainsi que pour des applications dans l’aviation civile, l’aérospatiale commerciale, le secteur maritime, l’automobile, les énergies nouvelles, les instituts de recherche scientifique et les universités. Elle est utilisée pour tester les pièces électroniques, les composants, les circuits intégrés, les matériaux et les procédés en accélérant les cycles de haute température, de forte humidité et de haute pression, ainsi que les essais de contrainte constante, afin de déterminer si des défaillances fonctionnelles surviennent en raison de la durabilité (durée de vie) ou des changements environnementaux.

Nom du produit Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST)
Modèle de produit HPSC251-M HPSC252-M
Volume du studio 51L 51 L × 2 réservoirs
Dimensions du studio φ380×D450 (R×D) φ380 × D450 (R × D) × 2 réservoirs
Dimensions du réservoir de stockage φ450×D600(R×D) φ450 × D600 (R × D) × 2 réservoirs
Dimensions extérieures 1200 x 1960 x 1140 mm (largeur x hauteur x profondeur) 1200 x 2170 x 1140 mm (largeur x hauteur x profondeur)
Plage de température 105℃~150℃
Fluctuations de température ≤±0.5℃
Homogénéité de la température ≤2℃
Déviation de température ±2℃
Plage de pression 110kPa ~ 300kPa (pression absolue)